能量色散型X射線熒光分析儀在不同領(lǐng)域的不同應(yīng)用

 

　　電子電氣

 

　　1.RoHS指令、無鹵素等篩選分析；

 

　　2.半導(dǎo)體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析；

 

　　汽車機械

 

　　1.應(yīng)對ELV指令的篩選分析；

 

　　2.各種機械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測；

 

　　鋼鐵非金屬

 

　　1.原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析；

 

　　2. 爐渣的組成分析；

 

　　在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。

 

　　的分析性能

 

　　采用高性能的SDD檢測器，確保硬件*化，具有*的高靈敏度·高速分析和高分辨率。可以檢測出6C～的機型正式上線（EDX-8000）。

 

　　高靈敏度提高檢測下限1.5～5倍，高性能的SDD檢測器與*化的光學(xué)系統(tǒng)和一次濾光片的組合，實現(xiàn)*的高靈敏度。從輕元素到重元素，全范圍輕松應(yīng)對。與采用傳統(tǒng)Si（Li）半導(dǎo)體檢測器的分析裝置相比，靈敏度也更勝*。

 

　　高速的分析速度zui大可提高10倍，SDD檢測器在單位時間X射線熒光的計數(shù)率高，因此能夠在更短的檢測時間內(nèi)進行高精度分析。特別是對金屬材料的分析，這個特點可以得到zui大限度的發(fā)揮。