EDX-LE能量色散X射線分析被測量樣品的要求

　　EDX-LE能量色散X射線分析作為一種快速分析手段，為我國的相關生產企業提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法（例如：發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等），XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適合用于各類相關生產企業作為過程控制和檢測使用。

 

　　EDX-LE能量色散X射線分析可以分為兩大類型：能量色散X 射線熒光分析（EDXRF）和波長色散X 射線熒光分析（WDXRF）；而能量色散型又根據探測器的類型分為（Si-PIN）型和SDD 型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。

 

　　由于波長色散配備較大功率的X 光管，熒光強度高；因此，波長色散儀器占用較短的測量時，便能達到較高的測量精度。

 

　　由于技術特點的差異，波長色散X 熒光分析儀需要對被測儀量樣品進行簡單的處理；對固體樣品的一般處理方法是將被測量樣品表面打磨光滑，對粉末和其他樣品可以采用磨細后進行粉末壓片法處理，相應的設備市場上很容易找到。

 

　　能量色散型儀器最大的優勢在于：可以對樣品不作特別復雜的處理而直接進行測量，對樣品也沒有任何損壞，適合直接用于生產的過程控制中；

 

　　但需要強調指出的是：從熒光理論上，被測量樣品的預先處理是必須的，對于能量色散儀器來說，我們可以采取一些技術手段進行校正來滿足實際生產控制的需要，但即使采用了技術校正的手段，對不規則樣品的直接測量也是以犧牲測量準確度作為代價的。